污染分析
我们有经验、设备和专业知识来提供您所需的污染分析解决方案。
我们有经验、设备和专业知识来提供您所需的污染分析解决方案。
产品中的污染可能会导致各种问题,包括产品故障、不良外观或质量控制失败。这些后果中的每一个都可能导致制造商不仅在单个零件上赔钱,而且在整个批次和大量产品上也要承担损失。因此,使用所需的设备和专业知识进行适当的污染分析至关重要。
傅里叶变换红外光谱(FTIR)是一种强大的技术,可以识别一系列污染物,通常由有机物质组成。污染物几乎可以以任何形式(固体、液体或气体)存在,并且可以相对较小。我们对一种污染物进行了测试,并将其与我们令人印象深刻且广泛的已知化合物数据库进行了比较
扫描电子显微镜和能量色散光谱(SEM-EDS)是识别污染物的另一项基本技术。与FTIR相比,无机污染物和缺陷最适用于该技术。SEM可以通过形状和大小分析缺陷,精确定位污染物所在的关键位置。EDS可以进一步分析污染物,并给出缺陷的元素组成。
光学显微镜(OM)当通过颜色识别污染物和缺陷时,尤其重要。在扫描样品以进行后续污染分析(如FTIR和SEM/EDS)时,它也是一个必不可少的工具。
X射线光电子能谱(XPS)用于涂层和表面上极薄的污染物。这种方法的穿透深度非常浅,因此在分析样品表面氧化和样品表面特有的其他特征时,这种技术特别有用。
气相色谱-质谱(GC-MS)在识别产品表面发现的挥发性和半挥发性污染物时尤其有用。对产品进行擦洗,然后用色谱图进行测试,并生成光谱。将光谱结果与我们先进的GC-MS库进行比较,以准确识别污染物。
根据项目所需的测试计划,样本要求会有所不同。
联系我们为了满足您的污染物分析需求,请详细介绍您的具体样品注意事项。
上述照片是我们的科学家利用我们的SEM/EDS拍摄的,作为污染分析调查的一部分。照片显示样品的污染区域放大了50000x!
我们所做的工作:
我们测试过的产品: