膜层分析

方法

扫描电子显微镜与能量分散光谱法（SEM-EDS）通常用于膜层分析。

• SEM可以提供每一层的高度详细图像，并以极高的精度测量厚度。胶片透明度不是问题，因为图像是由电子相互作用和不可访问的光创建的。
• 由于具有广泛的SEM倍率，可以分析膜厚度从1 mm以上到1微米以下。
• 可以通过能量色谱光谱法（EDS或EDX）进一步分析各种膜层，以获取每一层的元素组成，这可以帮助鉴定膜的特定层中可能的添加剂。

光学显微镜（om）是膜层分析的另一种出色的分析技术。

• 尽管SEM的细节水平比OM高得多，但在对彩色膜进行膜层分析时，光学显微镜特别有用。
• 与SEM相比，立体显微镜在较低的放大范围内运行，这使得分析厚膜样品成为可能。
• OM通常被用作SEM的先驱，以确定某些感兴趣的领域。

样本考虑

膜样品通常被固定和横截面。

膜样品的所需厚度通常低于2毫米以进行SEM分析。但是，仍然可以分析较厚的薄膜。

如果SEM是用于分析的方法，则对样品的挥发性含量存在局限性，因为过度的散热可能会损害仪器性能。

请联系我们讨论您的特定样本注意事项和电影层分析需求。

经验

我们完成的工作：

• 层层厚度
• 膜中粒子的识别和组成
• 竞争对手产品分析和比较分析
• 分层和胶片粘附分析
• 膜层的元素组成

我们测试的产品：

• 食品包装
• 窗口着色
• 金属化膜
• 膜复合材料
• 产品标签
• 塑料袋
• 糖果包装纸
• 箔层状的电影
• 医疗包装
• 地理工程电影
• 电子包装