AFM是一种分析工具，用于测量纳米级尺寸范围内材料模量和材料的差异。
原子力显微镜的主要用途是表征纳米相形态或表面粗糙度。它也是分析杂物分离嵌段共聚物系统或其他纳米级产品的相位形态的优异工具。
许多样本需要定制方法来适应AFM方法。我们的科学家拥有经验和教育背景，制定适当的方法来确保可靠的结果。
必须将样品固定在扁平基材上。因为最大扫描高度约为10μm，所以样品在要扫描的区域内也必须非常平坦。
样品通常在面积中仅为1cm，厚度为1cm，厚度为5mm或更小。
联系我们讨论您的特定示例考虑和测试需求。
我们所做的工作：
