透射电子显微镜测试(TEM)
TEM能够在超过光学显微镜(OM)的放大倍数下的倍数数万次以上检查单柱。
TEM能够在超过光学显微镜(OM)的放大倍数下的倍数数万次以上检查单柱。
浓缩的电子束通过非常薄的样品。基于电子密度,样品的各个区域不同地与光束相互作用。得到的图像表示电子密度的梯度区域。
透射电子显微镜分析是一种用于记录共聚物的相分布和共混物的伟大方法。
许多样品在以制备状态具有足够的对比度。然而,为了与一些标本获得足够的对比,使用染色技术。例如,基质内的不饱和组分用十六烷烃染色。该方法将揭示聚苯乙烯基质中的橡胶相分布。
在聚合物块或嵌入式标本上使用切片体或低温切片机制制备超薄样品。
TEM样品通常非常薄,厚度约为0.1微米。根据您希望通过TEM测试实现的目标,从样本的区域获得标本。
请详细讨论您的具体示例考虑因素联系我们。
我们具有透射电子显微镜分析的经验包括: