X射线荧光光谱(XRF)
X射线荧光光谱(XRF)测量通过高能辐射轰击后的样品中发射的特征X射线。
X射线荧光光谱(XRF)测量通过高能辐射轰击后的样品中发射的特征X射线。
该分析技术用于量化金属,陶瓷和复合材料的元素组成。该技术还可用于量化聚合物基质中的金属含量,并根据样品提供定量或半定量结果。
XRF是一种非破坏性分析技术,轰击具有高能X射线的样品,这导致样品原子的电离并从其轨道中喷射电子。喷射的电子被从其他轨道滴下的电子代替,并且掉落电子发出具有独特能量水平的X射线,这取决于它们源自的轨道,它们落下了多远。通过测量发射的X射线的能量和量,可以确定样品中存在哪个元素。XRF可以测量镁中的元素到铀(原子序数12至92)。
对于聚合物材料,除非它们太薄,否则分析样品,在这种情况下它们堆叠在一起。如果样品是粉末或颗粒,则可以将其包装成样品杯以实现更强的X射线信号。测试大多数聚合物材料RoHS合规性或其他金属污染,因为XRF不能量化诸如碳,氮,氧,氟或钠的光元素。
对于金属,XRF通常用于合金鉴定和确定RoHS依从性。金属是致密的材料,因此可以容易地测量非常小的样品。也可以测量金属涂层,因为XRF是表面分析技术,但它可能不会测量涂层下方的合金,除非它非常薄。
可以通过扫描电子显微镜与能量分散X射线光谱(SEMEDS)通过扫描电子显微镜来分析非常小或需要光元素的样品
最常使用XRF评估固体材料,它们可以是:热固性或热塑性材料,橡胶材料,金属碎片,或仅为任何直径为3毫米的样品。由于XRF是手持设备,并且可以操纵以测量任何大物体,因此没有最大的样本大小。
均匀样品只需要一个扫描XRF。如果样品不是均匀的,则需要多种扫描或必须进行样品准备以确保可靠的测试结果。
如果样品是液体或小于3mm,我们的队伍我想和你谈谈测试它的可行性。
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