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关于X射线光电子体光谱

X射线光电子能谱（XPS）可以分析样品的化学物质，在约6纳米或更小的表面内。XPS也称为ESCA，是用于化学分析的电子光谱的缩写。大多数元素的检测限制在各个千里范围内。

  • 方法

    XPS方法决定了样品的最外积1至10个分子层的化学成分。非常重要的是，没有有意地添加或从感兴趣的样本区域中添加或移除的材料。

    小点X射线光电子谱（XPS）使用PHI Quantiera扫描X射线微探针在小至20微米的斑点上进行XPS分析。

    XPS的采样深度约为10nm。

  • 示例注意事项

    由于该技术分析了样本的表面，因此正确地处理样品，包装和发货至关重要。最好在发送样品之前直接与我们的科学家讨论。我们将为样品包装和运输提供指导，并可向您发送适当的包装材料。

    投入XPS光谱仪的标本通常为直径约为一英寸，高度为半英寸或更小。XPS仪器在高真空下操作，因此在抽空周期内将去除样品的挥发性组分。XPS方法记录来自样品表面区域的非挥发性化合物中的元素。

    联系我们使用您的特定示例考虑问题。

  • 经验

    我们所做的工作：

    • 小特征的未知污染识别
    • 化学键合信息（表面和深度）
    • 化学成分信息
    • 粘附问题
    • 故障分析
    • 竞争性产品分析
    • 无变地

    我们测试的产品：

    • 金属表面
    • 处理表面
    • 化学改性表面
    • 聚合物样品
    • 硅胶污染
    • 无机表面